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尼康顯微鏡的目鏡測微尺校準方法

2014-03-03  發布者:admin 

 與化合物的光學顯微鏡進行線性測量一般包括約25毫米下降到0.2微米,這是由最大視場直徑和分辨率的顯微鏡極限主要取決於上下邊界的長度範圍。 這種互動式教學探討各種目鏡光罩用鏡台測微計的校準,並演示了如何分劃板可以被用來確定線性試樣尺寸。

本教程初始化與水平刻度目鏡分劃板,有八個主要部門的規則( 標準刻度分劃板),出現在疊加在一個階段微米在隨機選擇的物鏡放 ​​大倍數視口。 操作教程,使用X-移動Y移動滑塊操縱目鏡分劃板背後的鏡台測微裁決。 載物台微米平移分辨率的控製是由滑塊換算調整單選按鈕,這使 (默認)和測微尺的精細定位規則畢業就這些光罩的決定。 之後,測微尺已被放置在模滑塊的分劃板的後麵,點擊精細單選按鈕,並精心搭配的測微尺規則之一(最好是編號為100微米的間隔線)與目鏡的遠左手定則掩模版(編號上的預設掩模版“0”)。

一旦分劃板和鏡台測微裁決已經對齊,用鼠標點擊的疊加規則在目鏡分劃板的左手法則(標記為“0”的規則)來建立一個校準基準。 紅色線(基線)將出現在光標單擊鼠標按鈕時位置。 接下來,將光標移動到另一個位置到基線的右側位置在位置分劃板和載物台微米規則再次完美對齊。 再次單擊鼠標左鍵,然後第二紅線(校準線)將出現。 基線和校準線之間的距離(以微米為單位)將在一個黃色的盒子題為測微尺長度顯示在視口的下部右側。 同時,計算出的值(也微米)主要分劃板的裁決之間(有權光罩分區 )會在一個黃色的盒子出現在視口的下部左側。 後者的值現在可以被用來測量樣品的尺寸。

後光罩已經校準,點擊標本單選按鈕,位於視口的上部右側,並且標本將出現在視口中(從選擇A試片下拉菜單中選擇)。 為了測量試樣的功能,對準特征的邊緣上使用的X翻譯y平移滑塊目鏡分劃板(標記為“0”的規則)的左手法則。 接下來,單擊標本特征的相對邊緣的鼠標光標進行測量。 被測樣品的尺寸(以微米)將在一個黃色的盒子題為標本測量出現在視口的下部右側。 一個新的標本可以使用相同的校準(和物鏡放大倍數)從選擇A試片下拉菜單中選擇一名候選人進行測量。 為了提高分劃板的可見性,當它疊加在一個標本,選擇一個新的標線顏色(紅色是默認值)從光罩顏色下拉菜單(選擇有黑色,白色,紅色和黃色)。

另一個物鏡/目鏡分劃板校準可以通過從物鏡放大倍數下拉菜單中選擇不同的放大倍數進行。此外,一個新的掩模版可以從以下選擇一個光罩菜單中選擇。 無論這些行動(選擇一個新的放大或新​​標線)將重新初始化教程,使訪問者再掀校準。

線性掩模版(標準比例,十字準線,風車)用於線性測量,而電網光罩(方格網格,計數網格,同心圓,和米勒平方)被用於顆粒計數。 後者光罩也可校正在上述用於線性測量的方式。 測厚儀掩模版是用於比較的纖維和顆粒的相對尺寸是有用的。 這是刻線對準規則集編號20與載物台上的測微尺刻度校準。

目鏡分劃板(確定的測微尺刻度的關係)對特定物鏡的校準通常按照以下描述的建議過程(參見圖1)進行。 注意,隻對特定的物鏡/目鏡組合被測試,並且在顯微鏡的特定機械管長度的目鏡標線片的那個校準成立。 為了避免不必要地重複該過程,為每個組合的校準信息應記錄,並存儲在附近的顯微鏡工作站一個方便的位置。

  • 後確保顯微鏡對準並配置為科勒照明,插入適當的掩模版到顯微鏡目鏡和使玻璃分劃板盤的表麵上的刻刻度顯示清晰地聚焦調整眼透鏡。 仔細檢查分劃板的方向,以確認位置上方或下方的刻線數量也不予轉回。 這個任務可以通過按住目鏡在明亮的光源前,通過眼睛盯著鏡頭來完成。 最後,調整顯微鏡雙目瞳孔間距和以後測量記錄此值。 如果該顯微鏡配備有補償在兩個目鏡調整(如大多數現代顯微鏡的情況下),掩模版的校準值將是正確的任何瞳孔間距。

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  • 放置鏡台測微顯微鏡載物台上,並把微米尺度成焦點采用顯微鏡粗微調焦控製旋鈕。檢測規模,將其轉換為視場的中心是通過采用低倍率的物鏡促進先找到周圍的刻度圈,然後規模本身。 環包圍微米尺度是用肉眼可見的,因此應該使用來定位微尺在顯微鏡光路中(第一階段孔徑)的中心。 此外,幾個階段微米設計有刻從戒指到規模,這也有利於在使用高倍率的物鏡定位時規模的邊緣線。 旋轉的預期物鏡到位,並確保兩個秤(台測微尺和目鏡分劃板)是在同時進行重點視場可見。

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  • 翻譯階段,使用x - γ運動控製旋鈕或手柄,和/或旋轉目鏡(及其分劃板),以使兩個尺度成平行排列(圖1(a)和1(b))。 現代機械階段通常具有圍繞顯微鏡光軸的有限度的轉動運動。 在這種情況下,鬆開翼形螺釘(通常位於載物台的前部,將試樣台的下方)並旋轉階段,直到微米和目鏡標線片是平行的。

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  • 直接定位在目鏡標線片在微米(與階段控製)和對齊的分劃板上的左手定則與1的長,編號台上微米(100微米)的分割線(圖1(b))。 根據不同的物鏡倍率和目鏡場直徑,距離150微米和4毫米(階段微米尺度的長度的兩倍)之間的範圍內將是可見的目鏡。 在100至1000微米(10至100規則)在載物台微米的距離,確定兩個點在哪個分劃板和微米尺度完全匹配(參見圖1)。 為了獲得最準確的測量,利用兩個尺度上的最大可能範圍劃分的。 隻有偶爾做掩模版和鏡台測微計的刻度重合在其整個長度在目鏡可見,但是這往往與製造用於特定目鏡標線片的情況。 最後,確定目鏡規模參照載物台微米的分歧明顯的長度。

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  • 為正在使用的物鏡的測微尺的值可以通過將階段微米的選擇區域的已知長度的目鏡刻度的分割數對應的計算。 其結果將產生每刻度上的分劃板刻度為物鏡的距離,一個量通常被稱為校準常數 。 疊加在一台測微尺在圖1的標線片(b)示出標記20的左手法則(標記為0)上的分劃板與鏡台測微計師的對準。 這兩個規則的重疊是由紅線清晰顯示。 發生重疊的下一個區域,在載物台上的測微尺標有30的規則與目鏡分劃板的7.5馬克一致。 因此,該階段微米的100微米的區域等於7.5分劃板的分裂。目鏡標線片的各劃分,因此,對應於13.3微米,對於特定的物鏡/目鏡組合被校準。適當的分劃板校準計算顯著數字的數量應進行仔細的審查。 因為在光學顯微鏡的最小可分辨距離約為0.2微米(在最佳情況下),低於該值的線性測量,不能精確地確定。

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  • 進行精確測量時使用配備有變焦光學係統的顯微鏡,有必要使用一個階段微米,以顯微鏡各變焦設定。 雖然許多顯微鏡變焦環和控製旋鈕都畢業於名義物鏡放大倍數,這幾乎是不可能的變焦控製返回完全相同的位置,一個必要條件精確測量。

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  • 後在目鏡標線片已校準的階段測微尺,試樣的線性尺寸均可測量。 所有測量,最高放大倍數的物鏡應選擇使感興趣的整個標本的功能下降光罩規模的跨度之內。 東方的光罩尺寸與試樣地區備受矚物鏡輪廓相吻合。 接著,將試樣轉移至左邊緣帶編號的行中的目鏡標線片重合,並且計數由物鏡區域跨越尺度分割數。 仔細估算師的任何部分。 為了提高精度,開展對大型樣品多次測量。 當圓形或橢圓形的樣品被測量(如血細胞,酵母,細菌等),記錄至少20名來自不同域的尺寸。 正在研究在圖1(c)的試樣是人類的頭皮頭發軸,它是在直徑約93微米(測量與校準的標線片,如上麵所討論的)。

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剛才所描述的校準過程必須,當然,可以重複每個物鏡要被用於線性測量。 應當指出的是放大倍數由幾百分之刻有相同的放大倍數(例如,10倍)相似物鏡(即使來自同一製造商)而變化,所以每一個物鏡應該被獨立地計算。 如果顯微鏡是經常與許多不同的物鏡時,它可能會更方便繪製校準曲線以圖形形式的每一個物鏡。 這提供了一種簡單的機製來快速確定而與顯微鏡的工作,而無需對所有的用於進行測量的物鏡施加微米的值時,重複運算的特征尺寸。

上述的校準程序提供的一個因素,其有效期為一個特定的光學組合,而不需要實際的物鏡放大倍率,通常不同於壓印在物鏡鏡筒的額定功率的知識。 在利用包含修正衣領,以適應變化的蓋玻片厚度的物鏡,是要記住重要的是與衣領的不同設置的放大率的變化。 因此,確定這樣一個物鏡的校準係數隻適用於用於校準校正衣領設置。 物鏡具有可調整的套環,適用範圍廣的蓋玻片的厚度提供校正,但也表現出倍率變化到高達15%,在整個調整範圍。



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