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新聞資訊

尼康顯微鏡集成電路檢測

2014-05-06  發布者:admin 

 探索與反射光共聚焦顯微鏡集成電路的實時共聚焦成像。 說明本教程的操作被賦予小程序窗口下方。

本教程模擬了使用尼康OPTIPHOT 200C IC檢測共聚焦顯微鏡集成電路成像。 使用選擇的集成電路下拉菜單中選擇一個芯片的圖像。 然後使用聚焦深度滑塊通過顯微鏡可見,通過各種焦平麵砸焦點。 點擊藍色箭頭按鈕,滑塊的左側和右側將切換至在一個訂單中的圖像。



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