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尼康顯微鏡的場曲

2014-11-02  發布者:admin 

一個簡單的鏡頭聚焦的圖像點,從延長的扁平物體,如在顯微鏡載玻片上的標本,到球麵類似於彎曲的碗。 此表麵的標稱曲率是透鏡半徑的倒數,被稱為透鏡的佩茲伐曲率 。 在光學顯微鏡像場彎曲是一種常見的惱人的像差所熟悉的最有經驗的顯微鏡。

教程初始化與試樣(通過顯微鏡觀察)出現在該小程序的左手側的一個窗口的圖像。 下方的圖像窗口是標記選擇一個試樣的下拉菜單,該菜單可以用來選擇新的樣本。 圖像位置滑塊用於通過沿圖示為在程序窗口的右手側的光線跟蹤圖的虛擬透鏡係統的光軸移動的聚焦平麵來控製教程。 滑塊的初始位置恰為中心的左側,在最佳的整體聚焦的區域。 當滑塊被進一步向左移動時,焦平麵移動到佩茨瓦爾表麵的光路的中心,並在顯微鏡圖像與點擴散函數圖同時改變來說明的場曲象差的影響。 移動滑塊向右移動焦點平麵到佩茨瓦爾表麵的邊緣,並產生了顯微圖像和點擴散函數的相應變化。 一個網格圖案,相鄰定位的顯微鏡圖像和標記的膠片平麵,還示出了場曲的上一個虛擬膜平麵或CCD表麵的效果。

當可見光被聚焦,通過一個彎曲的透鏡,由透鏡產生的像麵將是一個彎曲的珀茲伐表麵如示於圖1。請注意,有兩個焦平麵(還有許多未示出)的珀茲伐表麵貼有標簽近和B中 。 圖像可以聚焦在一個大的數目位於A和 B之間,以產生一個尖銳的焦點上的邊緣或在圖像的中心焦平麵。 當檢體設置在目鏡(目鏡)觀察的顯微鏡,它要麽顯示清晰,明快在中心或在視場的邊緣,但不能同時使用。 這是因為從透鏡中心的距離越大的離軸點導致在更緊密的離軸圖像點。 通常,這不是當顯微鏡常規地掃描樣本,以觀察它們的各種特征的一個嚴重問題。 這是一個簡單的事情,用微調旋鈕來糾正標本重點小的不足。 然而,對於顯微攝影,場曲可以是一個嚴重的問題,特別是當該照片的一部分是不聚焦。

這個概念是使用代表不同的照明技術,在幾個顯微照片所示的教程。 圖像位置滑塊移動到最左邊的圖像的中心部分處於焦點的圖像的外部變得非常模糊。 這是不可能區分出現在視場的邊緣的任何微小的結構細節。 另外,當滑動件被移動到最右端時,產生相反的效果發生在圖像的中央部分變得失焦和邊緣進入尖銳焦點。 滑動範圍的中間部分表示中心和邊緣聚焦之間的最佳折衷。 這個位置將是一個顯微鏡將被迫為顯微攝影使用與在此狀態下的光學的焦點。

場的曲率可以在剛剛掃描樣品可以容忍,但它是災難性的,當一個人試圖生產出優質的顯微照片。 在顯微鏡的早期糾正前鏡片享受著廣泛的使用,顯微攝影往往會限製記錄在膠片上的視場的聚焦中心區域的麵積,從而模糊了邊緣模糊。 這可以通過在光電管插入一個投影透鏡,以減少對所述相機視場可用的量來容易地實現。 另一種方法是用一個波紋管伸展在相機上,以增加相機膠卷距離從投影透鏡,直至視場的僅中心部分是可見的。

在此之前的平場物鏡由卡爾·蔡司公司在30年代末期問世,本場在中間像平麵的有效平麵積隻有10至12毫米。 現代顯微鏡處理場曲通過修正使用專門設計的物鏡,這個差。 這些高度校正的物鏡被命名為俯視 (用於平場)和今天的物鏡的最常見的類型中使用,提供了高眼壓場範圍18到26毫米,並且能夠產生清晰的圖象細節從中心到邊緣的。 該光學改進已在增加物鏡的複雜性和成本,並常降低傳輸代價得到的。 事實上,平場校正已引進抗反射塗層後隻能變成現實。

平場物鏡也修正了其他光學文物,如球形和色差。 在該還對色差被大多校正的俯視物鏡的情況下,該物鏡被稱為俯視消色差 。 這也是對於螢石和複消色差的物鏡,其具有修飾的名稱平場螢石平場複消色差透鏡 ,分別的情況。

加場曲透鏡校正已被校正了其他單色(塞德爾)和多色的光學象差的物鏡往往可以添加顯著號碼透鏡元件與物鏡的。 例如,典型的消色差物鏡具有兩個透鏡雙峰和厚的彎月形或半球狀的透鏡,共5透鏡元件產生,如圖所示在圖2的左側相反,可比的俯視消色差物鏡具有三個雙峰,透鏡三重峰,彎月透鏡和半球形前透鏡,一共有11的透鏡元件,使得它非常難以製造。 剖開示出這兩個物鏡都示於圖2。正如AG亚游集团所看到的,透鏡元件的數量增加的透鏡來校正球麵誤差以及色差和場曲像差。 不幸的是,由於透鏡元件的數量增加了所以沒有物鏡的成本。

該修正球麵,色,像散,慧形像,失真和場曲像差複雜的平場複消色差的物鏡可以包含多達18至20個獨立鏡片,使得這些物鏡的最昂貴和困難製造。 平場複消色差物鏡可向上3,000元至4,000元的成本高倍率的單位,也有高數值孔徑。 對於許多顯微攝影的應用程序,但是,它是不具有最佳的校正絕對必要的,雖然這在很大程度上取決於樣品和所需放大倍數的範圍時。當成本是很重要的,它往往是明智的選擇具有校正高度尤其更現代的版本售價更溫和俯視螢石物鏡。 這些物鏡提供了清晰和銳利的圖像,最小的像場彎曲,並且將足以滿足90%以上的顯微攝影的應用程序。

場曲是很少完全消除,但它往往是難以檢測邊緣的曲率與大多數平場校正物鏡和它不在顯微照片中顯示。 此工件是在低放大倍數更嚴重,並且可以是與立體顯微鏡,其中表觀東西曲率是由立體聲角度或相對於雙光束路徑傾斜的扁平物體主要引起一個嚴重的問題。 製造商已經奮鬥了多年,以消除場曲在立體顯微鏡中發現的大物鏡。 在過去十年的公司,如尼康顯微鏡奧林巴斯蔡司徠卡和已在用於構建立體顯微鏡和光學質量方麵取得了長足的進步,而文物和畸變尚未完全消除,中高端車型,現在都能夠生產一流的顯微照片。




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