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尼康顯微鏡STED和STORM超分辨率成像中的比較

2018-03-29  發布者:admin 

受激發射損耗顯微鏡STED和基態耗盡的相關技術(GSD和飽和結構照明(SSIM)被稱為合奏聚焦光成像技術,並且是基於通常需要多個高的應用的非線性光學效應的-intensity脈衝激光器與專門調製濾波器來控製激發光束的幾何體(一技術通常被稱為點擴散函數工程 )。STED儀器利用類似的激光掃描共焦顯微鏡的光柵掃描成像方案。與此相反,隨機光學重構顯微鏡STORM是依賴於激活整個分子群體依次形象,以時間為依據個人定位發射器的一個有限的子集的單分子的方法。這種互動教程探討的相似和STED和風暴顯微鏡的差異。

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本教程初始化一對出現在顯示核心(深灰色)窗口虛擬細胞和周圍的細胞質(淺灰色)的。光開關熒光表示在細胞作為綠色的小球。 為了操作教程,點擊自動按鈕,調整速度控製。 隨著STED細胞掃描激發和枯竭激光器(綠色和橙色)的組合,在STORM細胞熒光依次光敏化,本地化,和光漂白(標有+符號)。 需要注意的是受激發射損耗是掃描技術,而STORM是一個隨機的技術,單分子的圖像子集。奧林巴斯顯微鏡




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