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新聞資訊

2012年顯微鏡新技術新產品綜述

2013-10-16  發布者:admin 

    科學家常深入生物器官去觀察他們的結構和功能,但像大腦和一些不透明的組織很難看的很深。目前,有一種新的試劑,在多光子顯微鏡上配上超長距離的物鏡,可以使組織透明、減少光散射。這樣,科學家可以得到小鼠腦部、其他動物器官等深層結構的3D圖像。這個試劑是由日本RIKEN腦科學研究所的科學家發明的。

Olympus現在開始提供SCALEVIEW-A2試劑,以及專門設計的SCALEVIEW 25X 4mm(NA0.1) 和8mm(NA0.9)工作距離的物鏡。
為了使用Scale試劑,Zeiss又重新設計了它的plan-apochromatic20x/1.0 VIS-IR物鏡鏡頭。在共聚焦或雙光子顯微鏡上,不必切腦片,該鏡頭可以采得深達5.6mm下細胞的3D圖像。
Nikon發布Ni係列正置顯微鏡。利用Nikon久負盛名的Eclipse Ti倒置研究顯微鏡的核心技術,Eclipse Ni係列提供多模式係統,通過擴展空間在一個平台上同時符合生物成像和醫學研究成像兩方麵的要求。
電子顯微鏡
通過整合光學顯微鏡(原microimaging)和離子事業(原nono technology systems)部門,Zeiss成立了一個新的事業部門—Carl Zeiss Microscopy。曾任Microimaging GmbH的CEO和總裁的Dr Ulrich Simon擔任新集團的CEO。
FEI收購了ASPEX Corp,ASPEX Extreme SEM是FEIQEMSCAN WellSite石油和天然氣微分析用電鏡的一部分。FEI還收購了高分辨率、數字顯微鏡供應商TILL。這次收購,使FEI擁有了相關顯微鏡的關鍵技術。
標準的镓FIB技術目前遇到新的挑戰,需要更好的加工工藝。這個挑戰因為氙離子束技術的引入而得到解決。Orsay Physics發布i-FIB柱, TESCAN FERA3 XMH上采用了這個柱子。FIB-FESEM可與氣注射係統、納米操作器、包括SE、BSE、SI、CL、EDX、EBSD在內的顯微分析器聯用。分辨率小於100nm,最大化氙流大於1uA。
JEOL開發出新一代能散光度計,在透射電鏡上,能超快速、超敏感的收集X射線。Centurio就是這種新的EDS矽漂移檢測器,可從100平方mm的範圍內以0.98的球麵角度收集X射線。
HITACHI發布的SU9000場發射掃描電鏡,在30kv下分辨率能達到0.4nm,放大率達到300萬倍,這是目前商用設備可達到的最大分辨率。
Osford發布新一代材料識別係統Aztec,此係統整合了顯微分析的最新技術,有著最先進的檢測器。


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